TY  - CONF

T1  - Composition profiling at the atomic scale in III-V nanostructures by cross-sectional STM

JO  - PHYSICA E-LOW-DIMENSIONAL SYSTEMS & NANOSTRUCTURES

PY  - 2003/04/01

AU  - Koenraad PM

AU  - Bruls DM

AU  - Davies JH

AU  - Gill SPA

AU  - Long F

AU  - Hopkinson M

AU  - Skolnick M

AU  - Wolter JH

ED  - 

DO  - DOI: 10.1016/S1386-9477(02)00860-3

VL  - 17

IS  - 1-4

SP  - 526

EP  - 532

Y2  - 2024/12/27

ER  -